（4）AEC-Q103《基于失效机理的汽车用传感器应力试验鉴定要求》

AEC-Q103规定了汽车用传感器最低应力测试要求的定义和参考测试条件，之前汽车用传感器做车规认证一直是引用AEC-Q100，而AEC-Q103标准更针对为汽车用传感器的特性及使用环境。标准中与AEC-Q100相同，均是规定了传感器的4个环境工作温度范围等级，如等级0为-40℃～+150℃，等级3为-40℃～+85℃。

（5）AEC-Q104《基于失效机理的汽车用多芯片组件(MCM)应力试验鉴定要求》

AEC-Q104规定了汽车用多芯片组件最低应力测试要求的定义和参考测试条件。AEC-Q104的主要原则，就是在MCM上使用的所有组件，包括电阻、电容、电感等被动组件、半导体分立器件以及集成电路在组合装板前，若先通过了AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200等规范考核，则MCM产品只需进行AEC-Q104内的7项的测试，若MCM上的组件未先通过或没进行AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200等规范的考核，则必须依据产品应用，按AEC-Q104标准中规定的8个组（A~H）共49个项目进行考核。 另外，AEC-Q104还规定了试验的顺序，导致验证通过的难度变高。例如，必须先进行HighTemp Operating Life(HTOL)，才能做 Thermal Shock(TS)，顺序颠倒过来就不行。

（6）AEC-Q200《基于失效机理的汽车用无源元件应力试验鉴定要求》

AEC-Q200规定了汽车用无源器件（电阻、电容、电感）最低应力测试要求的定义和参考测试条件，目的是要确定一种无源器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。但AEC-Q200的环境工作温度范围等级与AEC-Q100存在明显的不同，依旧是划分为5个等级，等级0的温度范围为-50℃～+150℃，而等级4为0℃～70℃。

AEC元器件支撑性技术标准

（1）AEC-Q001《半导体器件电参数控制指南》

该标准指导半导体器件承制方利用统计技术监控半导体器件和分立器件的电参数极限值。电参数平均值测试是用来检测半导体器件异常的统计方法，通过剔除这些电参数偏离平均值的器件可以提高器件批质量的可靠性。

（2）AEC-Q002 《统计结果分析指南》

该标准是基于统计原理，指导器件承制方对统计结果进行分析，属于统计良率分析的指导原则。通过对统计结果的分析可以剔除容易产生问题的整批器件。

（3）AEC-Q003《对集成电路电性能进行表征的指南》

该标准是针对器件的电性能表现所提出的特性化指导原则，用来生成产品、制程或封装的规格与数据表，目的在于收集组件、制程的数据并进行分析，以了解此组件与制程的属性、表现和限制，以及检查这些组件或设备的温度、电压、频率等参数特性表现。

（4）AEC-Q004《产品零缺陷指南》